Výrobca Číslo produktu:
8V182512IDGGREP
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
8V182512IDGGREP-DG
Popis:
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Podrobný popis:
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
Inventár:
1273934
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
8V182512IDGGREP Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Tape & Reel (TR)
Seriál
-
Stav produktu
Active
Typ logiky
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Napájacie napätie
2.7V ~ 3.6V
Počet bitov
18
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Balík zariadení dodávateľa
64-TSSOP
Základné číslo produktu
8V182512
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
2,000
Iné mená
296-22075-2
296-22075-1
-296-22075-1-NDR
-8V182512IDGGREP-NDR
296-22075-6
296-22075-1-NDR
-296-22075-1
296-22075-2-NDR
-V62/04730-01XE-NDR
-V62/04730-01XE
296-22075-6-NDR
-296-22075-1-DG
V62/04730-01XE
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
1 (Unlimited)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
74SSTUB32864AZKER
IC CONFIG REG BUFF 25BIT 96-BGA
74SSTVF16859G4RG4
IC REG BUFFER 13-26BIT 56-VQFN
74LVCE161284DLRG4
IC IEEE STD 1284 TXRX 48-SSOP
