Výrobca Číslo produktu:
SN74ABT18646PM
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74ABT18646PM-DG
Popis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Podrobný popis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventár:
1654573
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74ABT18646PM Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Tray
Seriál
74ABT
Stav produktu
Active
Typ logiky
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napájacie napätie
4.5V ~ 5.5V
Počet bitov
18
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-LQFP
Balík zariadení dodávateľa
64-LQFP (10x10)
Základné číslo produktu
74ABT18646
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
160
Iné mená
296-3943-NDR
-SN74ABT18646PMG4-NDR
SN74ABT18646PMG4-DG
296-3943
2156-SN74ABT18646PM
-SN74ABT18646PMG4
SN74ABT18646PMG4
-296-3943-DG
-SN74ABT18646PM-NDR
TEXTISSN74ABT18646PM
-296-3943
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
3 (168 Hours)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SY54016ARMG-TR
IC RCVR/LINE DVR CML LV 8-MLF
SN74FB2040RCG3
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
SY10EL16VAZC TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
