Výrobca Číslo produktu:
SN74ABTH182502APM
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74ABTH182502APM-DG
Popis:
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
Podrobný popis:
Scan Test Universal Bus Transceiver IC 64-LQFP (10x10)
Inventár:
88 Ks Nové Originálne Na Sklade
1566715
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74ABTH182502APM Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Tray
Seriál
74ABTH
Stav produktu
Active
Typ logiky
Scan Test Universal Bus Transceiver
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-LQFP
Balík zariadení dodávateľa
64-LQFP (10x10)
Základné číslo produktu
74ABTH182502
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
100
Iné mená
TEXTISSN74ABTH182502APM
-74ABTH182502APMG4
3301-SN74ABTH182502APM
-296-4131-DG
296-4131-NDR
-296-4131
-74ABTH182502APMG4-NDR
-SN74ABTH182502APM-NDR
2156-SN74ABTH182502APM
296-4131
74ABTH182502APMG4
74ABTH182502APMG4-DG
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
3 (168 Hours)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SN74ABT8952DWR
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SN74ABT8646DWRG4
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SY100EL16VDKG-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 10-MSOP