Výrobca Číslo produktu:
SN74ABTH18652APM
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74ABTH18652APM-DG
Popis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Podrobný popis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventár:
1696816
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74ABTH18652APM Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Tray
Seriál
74ABTH
Stav produktu
Active
Typ logiky
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napájacie napätie
4.5V ~ 5.5V
Počet bitov
18
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-LQFP
Balík zariadení dodávateľa
64-LQFP (10x10)
Základné číslo produktu
74ABTH18652
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
160
Iné mená
-296-4137
SN74ABTH18652APMG4-DG
-SN74ABTH18652APMG4
TEXTISSN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APM-NDR
-296-4137-NDR
296-4137
-296-4137-DG
296-4137-NDR
SN74ABTH18652APMG4
2156-SN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APMG4-NDR
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
3 (168 Hours)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SN74ABTE16245DL
IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP
SN74ABT8652DW
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
