Výrobca Číslo produktu:
SN74BCT8240ADWRG4
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74BCT8240ADWRG4-DG
Popis:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Podrobný popis:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
Inventár:
1736228
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74BCT8240ADWRG4 Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
-
Seriál
74BCT
Stav produktu
Obsolete
Typ logiky
Scan Test Device with Inverting Buffers
Napájacie napätie
4.5V ~ 5.5V
Počet bitov
8
Prevádzková teplota
0°C ~ 70°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Balík zariadení dodávateľa
24-SOIC
Základné číslo produktu
74BCT8240
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
2,000
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
1 (Unlimited)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Alternatívne modely
ČÍSLO DIELU
SN74BCT8240ADW
VÝROBCA
Texas Instruments
MNOŽSTVO DOSTUPNÉ
0
ČÍSLO DIELU
SN74BCT8240ADW-DG
CENA ZA JEDNOTKU
9.11
Typ substitútu
Direct
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SN74ABT8652DL
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
SN74ABTH182652APM
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
SN74TVC3010DWR
IC 10BIT VOLTAGE CLAMP 24-SOIC
