Výrobca Číslo produktu:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74BCT8373ANT-DG
Popis:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Podrobný popis:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Inventár:
1683754
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74BCT8373ANT Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
-
Seriál
74BCT
Stav produktu
Obsolete
Typ logiky
Scan Test Device with D-Type Latches
Napájacie napätie
4.5V ~ 5.5V
Počet bitov
8
Prevádzková teplota
0°C ~ 70°C
Typ montáže
Through Hole
Balenie / puzdro
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Balík zariadení dodávateľa
24-PDIP
Základné číslo produktu
74BCT8373
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
15
Iné mená
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
1 (Unlimited)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Alternatívne modely
ČÍSLO DIELU
SN74BCT8373ADW
VÝROBCA
Texas Instruments
MNOŽSTVO DOSTUPNÉ
0
ČÍSLO DIELU
SN74BCT8373ADW-DG
CENA ZA JEDNOTKU
9.11
Typ substitútu
MFR Recommended
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SN74ABT8543DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ACT1284NSR
IC 7BIT BUS INTERFC 3ST 20SO
SN74LV161284DL
IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP
