Výrobca Číslo produktu:
SN74LVTH18646APMG4
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74LVTH18646APMG4-DG
Popis:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Podrobný popis:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventár:
683 Ks Nové Originálne Na Sklade
1863221
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74LVTH18646APMG4 Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Bulk
Seriál
74LVTH
Stav produktu
Active
Typ logiky
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Napájacie napätie
2.7V ~ 3.6V
Počet bitov
18
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-LQFP
Balík zariadení dodávateľa
64-LQFP (10x10)
Základné číslo produktu
74LVTH18646
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
160
Iné mená
SN74LVTH18646APMG4INACTIVE
TEXTISSN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APMG4
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
2 (1 Year)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN
M38510/34201BFA
4-BIT BINARY FULL ADDERS WITH FA