Výrobca Číslo produktu:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
Výrobca:
Texas Instruments
Číslo dielu:
SN74ABTH182646APM-DG
Popis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Podrobný popis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventár:
1696399
Požiadať o cenovú ponuku
Množstvo
Minimálne 1
Minimálne 1
tOoy
(*) je povinné
Odpovieme vám do 24 hodín
Odpovieme vám do 24 hodín
ODOSLAŤ
SN74ABTH182646APM Technické špecifikácie
Kategória
Logika, Špecializovaná logika
Výrobca
Texas Instruments
Balenie
Tray
Seriál
74ABTH
Stav produktu
Active
Typ logiky
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napájacie napätie
4.5V ~ 5.5V
Počet bitov
18
Prevádzková teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balenie / puzdro
64-LQFP
Balík zariadení dodávateľa
64-LQFP (10x10)
Základné číslo produktu
74ABTH182646
Technické údaje a dokumenty
Technické listy
Dodatočné informácie
Štandardné balenie
160
Iné mená
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
Klasifikácia životného prostredia a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkosť (MSL)
3 (168 Hours)
Stav nariadenia REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikácia
Súvisiace produkty
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
